QT-606 에너지 분산형 X선 형광 분광계 RoHS1.0은 다양한 에너지를 갖는 형광 X선의 특성을 사용합니다. 시료의 형광 X선을 순차적으로 검출하여 진폭이 광자 에너지에 비례하는 일련의 펄스를 얻습니다. 이 펄스는 증폭기에 의해 증폭되어 다중 채널 펄스 분석기로 전송됩니다.
M오델:QT-606E에너지 분산형 X선 형광 분광계 RoHS1.0
P제품 사진:(참고용으로만)
제품 기술적인 매개변수:
기계 사양:
QT-606 에너지 분산형 X선 형광 분광계 RoHS1.0은 다양한 에너지를 갖는 형광 X선의 특성을 사용합니다. 시료의 형광 X선을 순차적으로 검출하여 진폭이 광자 에너지에 비례하는 일련의 펄스를 얻습니다. 이 펄스는 증폭기에 의해 증폭되어 다중 채널 펄스 분석기로 전송됩니다. 펄스 수는 다음과 같이 계산됩니다. 펄스 진폭의 크기. 펄스 진폭은 X선 에너지에 따라 조정될 수 있으므로 광자 에너지에 따른 계수율의 분포 곡선, 즉 X선 에너지 스펙트럼을 얻을 수 있습니다.
특징:
1. RoHS, 할로겐, 코팅, 합금(귀금속 포함) 및 다양한 기존 재료 분석의 기본 요구 사항을 포괄하는 고해상도 및 넓은 감지 범위를 갖춘 원래의 미국 전기 냉동 고성능 Si-PIN 감지기를 활용합니다.。
2. 최첨단 DPP 디지털 다중 채널 신호 통합 프로세서가 장착되어 있으며, 특히 고해상도(예: Hg 및 Cl) 및 최대 80MHz의 데이터에서 일반 아날로그 다중 채널 신호 프로세서보다 더 나은 성능을 제공합니다. 분석 시간 단축, 측정 반복성 향상 및 장기 안정성을 위한 전송 속도。
3. 샘플을 명확하게 관찰하고 샘플 테스트 영역의 정확한 위치를 지정할 수 있는 내장형 고화질 카메라 시스템。
4. 최신 FP 측정 소프트웨어를 지원하고 다중 스펙트럼 처리 알고리즘과 매트릭스 보정 알고리즘을 통합하여 장비 측정의 다양한 간섭 피크를 효과적으로 줄이고 낮은 원소와 미량 원소를 감지할 수 있습니다.
제품 설명:
번호 매기기 |
제품 사양 |
비고 |
제품 사양 |
제품 모델: BXR-606 |
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제품 이름: 에너지 분산형 X선 형광 분광계 |
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원칙 분석의 |
에너지 분산형 X선 형광 분석 |
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분석요소 |
1.원소 분석 범위 황(S)-우라늄(U) 임의 원소 2. 구리합금, 철합금, 아연합금, 주석-납합금, 귀금속 분석 등을 분석할 수 있습니다. 3.ROHS 및 할로겐의 납(Pb) 정량 테스트、HG(HG)、카드뮴(CD)、크롬(Cr)、폴리브롬화비페닐(PBB)및 폴리브롬화 디페닐 에테르(PBDE)총브롬,할로겐의 브롬(브르)、염소(Cl)。 4.최대 5개의 레이어를 분석하고 한 번에 최대 24개의 요소를 분석할 수 있습니다. |
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근무 조건 |
작동 온도:18-22℃ |
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상대습도:40%-60% |
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전원 공급 장치:AC 220V±10%、50/60Hz |
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측정 조건: 대기 환경 |
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기술 지표 |
검출한계:납/CD/Cr/Hg/브르/≦2ppm |
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테스트 샘플 시간: 50-300초 조정 가능 |
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테스트 내용 범위:1ppm-99.99% |
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0.005의 분석 측정 동적 범위μm ~ 50μm |
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샘플 모양: 모든 크기, 모든 불규칙한 모양 |
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샘플 유형: 플라스틱/금속/필름/분말/액체 |
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엑스레이 튜브: 관전압/0~50kV, 튜브 전류 / 최대 1~1000 μA,최대 전력: 50W,필라멘트 전압: 2.0V,필라멘트 전류: 1.7A,광선 추출 각도:12°표적: 텅스텐 표적,창 두께:400um,과열 및 과부하 보호, 작동하지 않을 때 자동으로 대기 상태로 들어가 서비스 수명 연장。 |
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조사 직경: 콜리메이터 8mm\2mmmm\1mm |
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미국 Spellman 고전압 전원 공급 장치: 입력 전압: DC +24V±10%,입력 전류: 4.25A(최대),출력 전압: 0 -50KV 및 1mA,최대 출력:50W,압력 조절:0.01%(무부하에서 최대 부하까지) 전류 조정: 0.01%(무부하에서 최대 부하까지), 리플 전압: 출력 정격 전압을 전제로 리플 전압의 피크 값은 최대 출력 전압의 0.25%이며 8시간의 안정성은≤0.05%. |
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냉각 시스템: 동체의 전면과 후면에는 여러 개의 냉각 구멍이 있습니다. 동체에는 공기 냉각을 위한 팬이 3개 있습니다. X선관을 고온 열감소 수지로 코팅한 후 방열판을 감쌉니다. 그런 다음 하나의 팬을 사용하여 열을 방출합니다. |
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방사선 방호 시스템: 부드럽고 단단한 방사선 보호 설계, 삼중 처리: X선관 특수 방사선 처리, 샘플 커버 이중층 리드 패키지, 소프트웨어 방사선 경고(기기 작업에서 샘플 캐비티가 켜지면 기기가 자동으로 전원을 끕니다. ) 작업자의 안전을 확보하기 위해 국가가 정하는 방사선안전면허를 취득하고, 방사선량은 국가기준보다 낮다. |
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필터: 8개의 새로운 필터 자동 선택 설정 |
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샘플 모니터링 시스템: 30배 5 메가픽셀 컬러 CCD 카메라, 샘플 상태 실시간 관찰 및 소프트웨어 테스트 인터페이스에서 샘플 배치. 테스트 전 마이크로 모션 조정 샘플 위치. 샘플 테스트가 완료되면 테스트 보고서에 패턴이 명확하게 표시됩니다. |
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소프트웨어 시스템: RoHS의 무할로겐 원소에 대한 이론적 알파계수법(NBS-GSC법), 통합FP, 경험계수법을 이용한 정량분석 및 계산(납,CD,HG,브르,Cr,Cl)정확한 테스트。다국어 작동 인터페이스, 간단한 작동, 원버튼 디자인, 다양한 맞춤형 보고서 생성 가능, 자동으로 PDF, EXCEL 및 기타 보고서 형식 출력 가능 |
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정격 전력:0.35kW |
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무게:50Kg |
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치수:650(W)×450(디)×450(H)mm |
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샘플 챔버 크기:350(W)×300(디)×150(H)mm,대형 샘플 커버를 사용하면 뚜껑 개방 테스트가 가능합니다. |
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표준 구성 |
Amptek Si-PINA 검출기 세트: |
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텅스텐 타겟 특수 방사선 방지 처리 측면 창형 X선관 |
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미국 Spellman 고전압 전원 공급 장치 |
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완전히 밀폐된 리드 플레이트 이중 샘플 챔버 |
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고정밀 CCD 카메라 |
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알파계수법(NBS-GSC법), 통합 FP, 경험적 계수법 소프트웨어 세트 |
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샘플 상자 1개, 테스트용 샘플 컵 1개, 테스트용 플라스틱 필름 롤 1개 |
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EU PE# 표준 샘플, 은 교정 표준 |
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운영 체제:창문S7 |
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램:4G |
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표시하다:19”SVGA(LCD) |
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하드 디스크:1T |
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광학 드라이브:16XDVD |
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CPU:E5700 |
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프린터: HP 컬러 잉크젯 프린터 |
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제품 판매 후 서비스 보증 |
1.전체 기계는 24개월 동안 보증되며 소프트웨어는 평생 무료입니다.; 2.예를 들어 EU는 ROHS 테스트 프로젝트를 조정하고 무료 분석 프로젝트 업그레이드를 제공합니다.; 3.유지보수 대응 시간: 수리 요청을 받은 후 2시간 이내에 기술 지원을 받고, 문제가 해결되지 않은 경우 24시간 이내에 사용자 사이트로 달려갑니다. 4.정기적으로 사용자에게 응답, 월 1회 이상 응답 전화。 5.보증 기간 동안(인적 원인이 아닌) 고장에 대한 비용은 회사가 부담합니다.; 6.보증 기간 만료 후 고장(사람이 아닌 경우)으로 인해 하드웨어 교체가 필요한 경우 당사에서 해당 부품을 우대 가격으로 교체해 드립니다.。 |
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제품 장점:
높은 비용 성능, 주요 구성은 원래 미국 제품이며 총 가격은 수입 악기의 절반에 불과합니다.;
애프터 서비스는 신속하고 빠르며 태도는 성실합니다. ROHS 감지기 중 최고입니다.;
이 제품은 ASUS/Samsung/HP/Zida의 인정을 받았으며 자격을 갖춘 공급업체입니다.;
높은 분석 정확도, 우수한 안정성 및 낮은 실패율;
일상적인 사용을 위한 소모품이 필요 없으며 유지 관리 비용이 저렴합니다.;
국제 방사선 표준에 따른 완전 밀폐형 납판 이중 미로 방사선 보호 조치;
측면 창 X 선 튜브, 안정적인 성능, 긴 수명, 낮은 교체 비용, 튜브 압력 튜브 흐름이 대기 상태에서 자동으로 떨어지고 광 파이프 보호 기능이 향상되고 서비스 수명이 길어집니다.。
모든 중국 운영 분석 소프트웨어, 운영자에 대한 낮은 요구 사항, 테스트 결과는 직접 인간화 분석 보고서를 생성하고 분석 소프트웨어에서 다양한 스타일의 분석 보고서를 사용자 정의할 수도 있습니다.;
강력한 분석 및 관리 소프트웨어, 기록 데이터는 영구적으로 저장되며 언제든지 조정할 수 있습니다.;
사람의 조작 없이 다양한 유형의 샘플 매개변수의 자동 설정을 분석합니다.;
130만 화소 컬러 CCD 카메라로 언제든지 샘플 측정 위치 모니터링;
자동 오류 감지 및 처리 시스템은 작동 인터페이스에서 기기의 작동 상태를 시각적이고 효과적으로 확인할 수 있으며 자동으로 표시되고 자동으로 해결되는 문제를 찾을 수 있습니다(하드웨어 오류는 제외하지만 문제는 작동 인터페이스에 반영될 수 있음).。